透过电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）和扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM），科学家们可以观察和研究样本中的微观结构和特征。TEM和SEM是两种不同类型的电子显微镜，它们具有各自的工作原理和应用领域。

透过电子显微镜（TEM）

TEM是一种能够观察样本内部微观结构的电子显微镜。它的工作原理类似于光学显微镜，但使用的是电子束而不是可见光。TEM的基本工作原理包括：

电子源： TEM使用电子枪产生高速电子束。

样本： 样本通常需要被切成非常薄的截面，以便电子能够透过样本。

透射： 电子束透过样本，并与样本内的原子和分子发生相互作用。

投影： 电子束通过样本后，其投影图像被记录在底片或数字探测器上。

TEM的优势在于其极高的分辨率，可以观察到细胞结构、晶体、原子排列等微观细节。它在材料科学、生物学、纳米科学等领域具有广泛的应用，用于研究样本的内部结构。

扫描电子显微镜（SEM）

SEM是一种用于观察样本表面特征和拓扑的电子显微镜。其工作原理包括：

电子源： SEM也使用电子枪产生电子束，但与TEM不同，它的电子束不需要透过样本。

样本： 样本通常需要被金属薄层涂覆，以增加导电性。

扫描： 电子束被聚焦到样本表面，然后以一种特定模式扫描样本。

信号检测： SEM测量样本表面反射、散射和二次电子排放等信号，并将其转化为图像。

SEM的优势在于其出色的深度感和表面拓扑信息，适用于材料科学、地质学、生物学等领域，用于研究表面形貌和三维结构。

总结来说，TEM和SEM是两种不同类型的电子显微镜，分别用于观察样本的内部结构和表面特征。它们在科学研究和工程应用中发挥着关键作用，帮助科学家深入研究微观世界中的各种材料和结构。